نیچے دی گئی جدول میں دو طریقوں کے درمیان چار فیصلہ کن فرقوں کا خلاصہ کیا گیا ہے، اس کے بعد ٹیسٹ پیرامیٹر کے فرق جو ان کی پیروی کرتے ہیں۔
|
پیرامیٹر |
VLF ٹیسٹنگ (0.1 ہرٹج) |
ڈی سی ہپوٹ ٹیسٹنگ |
فائدہ |
|
فیلڈ کی تقسیم |
اے سی کی طرح۔ Capacitive اور resistive گریڈنگ دونوں فعال ہیں؛ تناؤ کی تقسیم 0.1 ہرٹز پر سروس کی شرائط کو دوبارہ پیش کرتی ہے۔ |
خالصتاً مزاحم۔ فیلڈ کو چالکتا کے ذریعے کنٹرول کیا جاتا ہے، اجازت نہیں، لہذا درجہ بندی کی تہوں اور مشترکہ جیومیٹریوں پر سروس سے مختلف زور دیا جاتا ہے۔ |
وی ایل ایف |
|
خلائی چارج کا خطرہ |
کم قطبیت ہر 5 سیکنڈ میں الٹ جاتی ہے۔ انجیکشن چارج دوبارہ مل جاتا ہے، اور ٹیسٹ کے بعد کیبل فیلڈ نیوٹرل ہوتی ہے۔ |
اعلی چارج خالی جگہوں، نجاستوں، اور انٹرفیس میں پھنسا ہوا؛ بقایا فیلڈ دوبارہ انرجیائزیشن پر AC پر سپرپوز کرتا ہے اور ٹیسٹ کے بعد ناکامی کا سبب بن سکتا ہے۔ |
وی ایل ایف |
|
پانی کے درخت کا پتہ لگانا |
جی ہاں بار بار فیلڈ الٹنے سے درختوں کی کمزور موصلیت ٹیسٹ کی سطح پر یا اس سے نیچے ٹوٹ جاتی ہے۔ ٹین ڈیلٹا ٹپ اپ انحطاط کو مقدار بخشتا ہے۔ |
نہیں. پانی کے درخت DC کے تحت مؤثر طریقے سے پوشیدہ ہیں؛ انحطاط شدہ کیبل ٹیسٹ پاس کرتی ہے اور سروس میں ناکام ہوجاتی ہے۔ |
وی ایل ایف |
|
سامان کا سائز |
کمپیکٹ چارجنگ کرنٹ 50 ہرٹز سے 500× کم ہے، لہذا 30-80 kV سیٹ کا وزن تقریباً 30-90 کلوگرام ہوتا ہے اور یہ 230 V ساکٹ سے چلتا ہے۔ |
کمپیکٹ سیٹ، لیکن کوئی تشخیصی صلاحیت اور کوئی لمبائی فائدہ نہیں؛ ٹیسٹ کے بعد علیحدہ ڈسچارج اور ارتھنگ کے طریقہ کار کی ضرورت ہوتی ہے۔ |
وی ایل ایف |
|
ٹیسٹ وولٹیج / دورانیہ |
2U₀ سے 3U₀، 15-60 منٹ (IEEE 400.2)؛ 3U₀ 15 منٹ کے لیے (HD 620 / VDE 0276-620)۔ |
تاریخی طور پر 2U₀ سے 4U₀ 5-15 منٹ کے لیے؛ اب IEEE 400.2 کے ذریعے extruded کیبل کے لیے واپس لے لیا گیا ہے۔ |
وی ایل ایف |
|
تشخیصی دستیاب ہے۔ |
اسی کنکشن پر ٹین ڈیلٹا، PD پیمائش، اور رساو کرنٹ کی نگرانی۔ |
صرف رساو کرنٹ؛ کوئی PD یا ڈائی الیکٹرک نقصان کی معلومات نہیں۔ |
وی ایل ایف |