جزوی خارج ہونے والے مادہ ٹیسٹ اور ہائپٹ ٹیسٹ میں کیا فرق ہے؟
دونوں جزوی خارج ہونے والے ٹیسٹ اور ہائپٹ ٹیسٹ بجلی کے سامان کی موصلیت کا معائنہ کرنے کے لئے اہم طریقے ہیں۔ تاہم ، ان کے پتہ لگانے کے اہداف ، تکنیکی اصولوں اور اطلاق کے منظرناموں میں نمایاں فرق موجود ہیں۔ ہائپٹ ٹیسٹ ہائی وولٹیج کا اطلاق کرکے موصلیت کی مجموعی صلاحیت کی تصدیق پر مرکوز ہے ، جبکہ PD ٹیسٹ ٹیسٹ کے دوران سامان کے جزوی خارج ہونے والے مادہ کو دبانے کے لئے استعمال کیا جاتا ہے تاکہ ٹیسٹ آبجیکٹ کے ممکنہ موصلیت کے نقائص کا درست طریقے سے پتہ لگایا جاسکے۔
ہائپٹ ٹیسٹ: یہ ٹیسٹ بنیادی طور پر سامان کی اہم موصلیت کی مجموعی طاقت کی جانچ کرتا ہے۔ ریٹیڈ ورکنگ وولٹیج سے زیادہ ٹیسٹ وولٹیج کا اطلاق کرکے (عام طور پر 1 سے 5 منٹ تک جاری رہتا ہے) ، اس سے یہ طے ہوتا ہے کہ موصلیت کو توڑ دیا گیا ہے یا اس میں شدید رساو ہے۔ بنیادی مقصد موصلیت کے "نقصان کے خلاف مزاحمت" کی تصدیق کرنا ہے۔ پاور فریکوینسی ٹیسٹ ٹرانسفارمر یا سیریز گونج ٹیسٹ سسٹم کے ذریعے ہائی وولٹیج کا اطلاق کرکے ، اور اس کی اہلیت کا تعین کرنے کے لئے ایک مضبوط برقی میدان کے تحت موصلیت کے مواد کی رواداری کی صلاحیت کا استعمال کرتے ہوئے۔
جزوی خارج ہونے والے مادہ ٹیسٹ: ہینڈ اسٹینڈ وولٹیج ٹیسٹ کی بنیاد پر ، توجہ ہائی وولٹیج کے تحت ٹیسٹ آبجیکٹ کے جزوی خارج ہونے والے سگنلز کا پتہ لگانے پر ہے۔ ایک ہی وقت میں ، یہ ضروری ہے کہ ٹیسٹ آبجیکٹ کے حقیقی جزوی خارج ہونے والے اشاروں میں مداخلت کرنے سے بچنے کے لئے ٹیسٹ ڈیوائس کی جزوی خارج ہونے والی مقدار خود انتہائی کم (خارج ہونے والے مادہ کی خصوصیات کے بغیر) ہو۔ بنیادی مقصد موصلیت کے اندر "مائکروسکوپک نقائص" دریافت کرنا ہے (جیسے مینوفیکچرنگ نقائص ، عمر بڑھنے کا نقصان ، اور اسی طرح)۔ خصوصی موصلیت والے مواد کا استعمال کرکے اور الیکٹرک فیلڈ ڈیزائن کو بہتر بنانے سے ، ٹیسٹنگ ڈیوائس کی جزوی خارج ہونے والی مقدار خود انتہائی کم (عام طور پر <5 پی سی) ہوتی ہے ، جو ٹیسٹ اشیاء کے جزوی خارج ہونے والے سگنل کی درستگی کو یقینی بناتی ہے۔