ٹرانسفارمر کے لیے لوڈ نقصان کی اہمیت
ایک AC وولٹیج ایک ٹرانسفارمر کے ایک وائنڈنگ سسٹم سے منسلک ہوتا ہے جس کے مخالف وائنڈنگ سسٹم شارٹ سرکٹ ہوتا ہے۔ جب شارٹ سرکٹ وائنڈنگ سسٹم میں ریٹیڈ کرنٹ بہتا ہے، تو ٹرمینلز کے درمیان ظاہر ہونے والا وولٹیج شارٹ سرکٹ وولٹیج ہے۔ جذب شدہ فعال طاقت ٹرانسفارمر لوڈ نقصان کے مساوی ہے۔
ٹرانسفارمر کے اندر ہونے والے کل نقصانات جب ریٹیڈ کرنٹ اور فریکوئنسی کو لاگو کیا جاتا ہے تو لوڈ نقصان میں دکھایا جاتا ہے۔ اس میں وائنڈنگز اور اندرونی رابطوں کے اومک نقصانات کے ساتھ ساتھ وائنڈنگز میں رساو والے کھیتوں سے ہونے والے آوارہ نقصانات (ایڈی کرنٹ نقصانات) شامل ہیں۔
مکینیکل حصوں. بوجھ کے نقصان کو سمیٹنے والے درجہ حرارت کا حوالہ دیا جاتا ہے (IEC کے مطابق 75 ڈگری اور IEEE کے مطابق 85 ڈگری)۔
ٹرانسفارمر کے بوجھ کے نقصان کی پیمائش کیسے کریں۔
سمیٹنے کی مزاحمت اور درجہ حرارت کی پیمائش اصل بوجھ کے نقصان کی پیمائش سے پہلے کی جانی چاہیے۔ اگر بلٹ ان کرنٹ ٹرانسفارمرز ہیں، تو ان کو ٹیسٹ کے دوران مختصر کرنا چاہیے تاکہ ان کے آئرن کور کی سیچوریشن سے بچا جا سکے اور ان کے ثانوی ٹرمینلز پر زیادہ وولٹیج کو روکا جا سکے۔ جھاڑیوں کے نلکوں کو مٹی میں ڈالنا ضروری ہے۔ اگر ٹرانسفارمر آن لوڈ ٹیپ چینجر سے لیس ہے، تو پہلے نقصان کی پیمائش پرنسپل نل پر کی جاتی ہے اور اس کے بعد سب سے زیادہ اور سب سے کم نلکوں پر۔
ٹیسٹ کے دوران، کرنٹ کو مسلسل اوپر کی طرف ایڈجسٹ کیا جاتا ہے (صفر سے پوری پیمائش کرنے والے کرنٹ تک) تاکہ داخل ہونے والے کرنٹ سے بچا جا سکے۔ اس کا DC جزو انسٹرومنٹ ٹرانسفارمر کی خرابیوں کا باعث بن سکتا ہے، جسے درست نہیں کیا جا سکتا (موجودہ ٹرانسفارمرز کی پری میگنیٹائزیشن)۔ ٹیسٹ کا دورانیہ ہر ممکن حد تک مختصر ہونا چاہیے اور وائنڈنگز میں کسی بھی اہم حرارت سے گریز کریں۔ لہذا ریٹیڈ کرنٹ پر پیمائش کا وقت تقریباً 30 سیکنڈ (انگوٹھے کا اصول) ہونا چاہیے۔ مزید برآں، ماپنے والا کرنٹ ریٹیڈ کرنٹ کے جتنا ممکن ہو قریب ہونا چاہیے، حالانکہ IEC یہ بتاتا ہے کہ کرنٹ ریٹیڈ کرنٹ کے 50% سے کم نہیں ہونا چاہیے۔ ناپے ہوئے نتائج کی تصدیق کے لیے تقریباً 10% کم کرنٹ کے ساتھ دوسری پیمائش کی سفارش کی جاتی ہے۔ دو نکات کو بڑھا کر اقدار پر اتفاق کیا جانا چاہیے۔